产品中心

Product Center
热门搜索： TA100超快瞬态吸收光谱系统 TPL300稳态/瞬态荧光光谱系统 LFP100闪光光解系统 THZ100超快时间分辨太赫兹光谱系统 深紫外荧光系统 FLIM300多功能激光扫描共聚焦荧光成像系统 UPSI100超快泵浦探测阴影成像系统 UF100超快荧光光谱系统 碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统 大能量DPSS Nd:YAG纳秒脉冲激光器 高能高频DPSS连续可调谐纳秒激光器 高速探测器 SHG100非线性SHG测试系统 Z扫描测试系统-ZTS100 MICRO LED晶圆级综合检测系统 SiC晶圆质量成像检测系统

当前位置：首页产品中心半导体光学检测系列SiC衬底位错缺陷无损检测系统

product

产品分类
tel-phone

18698665927

查看全部

article

相关文章
  • 碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统
    碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统

    碳化硅衬底检测,碳化硅成像检测,碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统：最高检测速度：＜17min/片（6“）；BPD、TSD、TED分类识别。

    更新时间：2025-05-07
    浏览量：2002
共 1 条记录，当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页