深紫外荧光系统成像功能：荧光强度或光谱成像/荧光寿命成像/深紫外成像；激发波长：206nm/257nm/343nm/515nm。

科研级钙钛矿材料-器件综合光谱表征系统介绍： 高精度PL/EL强度、发射光谱,时间分辨PL,PLQE,QFLS,赝J-V气 高分辨光电流/光电压成像 激光/样品扫描可选 兼容高压、低温等模块 集采集、分析于一身的控制软件

科研级宽禁带半导体综合表征系统介绍： TPL300-UV同时具备时间分辨、光谱分辨和空间分率功能。系统使用科研级正置显微镜和高精度XY位移台，整体结构稳定,操作简单,可以实现荧光寿命采集、荧光发射谱采集、荧光强度/寿命成像、SHG成像、拉曼成像等功能。激发波长可全自动程控切换,荧光探测波长可覆盖紫外200 nm,激发波长可覆盖紫外206 nm。